Eisenmann, M.; Reinke, A.; Weru, V.; Tizabi, M. D.; Isensee, F.; Adler, T. J.; Ali, S.; Andrearczyk, V.; Aubreville, M.; Baid, U.; Bakas, S.; Balu, N.; Bano, S.; Bernal, J.; Bodenstedt, S.; Casella, A.; Cheplygina, V.; Daum, M.; De Bruijne, M.; Depeursinge, A.; Dorent, R.; Egger, J.; Ellis, D. G.; Engelhardt, S.; Ganz, M.; Ghatwary, N.; Girard, G.; Godau, P.; Gupta, A.; Hansen, L.; Harada, K.; Heinrich, M.; Heller, N.; Hering, A.; Huaulmé, A.; Jannin, P.; Kavur, A. E.; Kodym, O.; Kozubek, M.; Li, J.; Li, H.; Ma, J.; Martín-Isla, C.; Menze, B.; Noble, A.; Oreiller, V.; Padoy, N.; Pati, S.; Payette, K.; Rädsch, T.; Rafael-Patiño, J.; Bawa, V. Singh; Speidel, S.; Sudre, C. H.; Van Wijnen, K.; Wagner, M.; Wei, D.; Yamlahi, A.; Yap, M. H.; Yuan, C.; Zenk, M.; Zia, A.; Zimmerer, D.; Aydogan, D.; Bhattarai, B.; Bloch, L.; Brüngel, R.; Cho, J.; Choi, C.; Dou, Q.; Ezhov, I.; Friedrich, C. M.; Fuller, C.; Gaire, R. R.; Galdran, A.; García Faura, A.; Grammatikopoulou, M.; Hong, S.; Jahanifar, M.; Jang, I.; Kadkhodamohammadi, A.; Kang, I.; Kofler, F.; Kondo, S.; Kuijf, H.; Li, M.; Luu, M.; Martinčič, T.; Morais, P.; Naser, M. A.; Oliveira, B.; Owen, D.; Pang, S.; Park, J.; Park, S.; Płotka, S.; Puybareau, E.; Rajpoot, N.; Ryu, K.; Saeed, N.; Shephard, A.; Shi, P.; Štepec, D.; Subedi, R.; Tochon, G.; Torres, H. R.; Urien, H.; Vilaça, J. L.; Wahid, K. A.; Wang, H.; Wang, J.; Wang, L.; Wang, X.; Wiestler, B.; Wodzinski, M.; Xia, F.; Xie, J.; Xiong, Z.; Yang, S.; Yang, Y.; Zhao, Z.; Maier-Hein, K.; Jäger, P. F.; Kopp-Schneider, A.; Maier-Hein, L.
(IEEE Computer Society Press, 2023)
International benchmarking competitions have become fundamental for the comparative performance assessment of image analysis methods. However, little attention has been given to investigating what can be learnt from these ...