Technical Summary

Arent, D.; Banerjee, R.; Benson, S.M.; Bouille, D.H.; Brew-Hammond, A.; Cherp, A.; Coelho, S.T.; Emberson, L.; Figueroa, M.J.; Grubler, A.; He, K.; Jaccard, M.; Kahn Ribeiro, S.; Karekezi, S.; Larson, E.D.; Li, Z.; McDade, S.; Mytelka, L.K.; Pachauri, S.; Riahi, K.; Rockstrom, J.; Rogner, H.H.; Roy, J.; Schock, R.N.; Sims, R.; Smith, K.R.; Turkenburg, W.C.; Urge-Vorsatz, D.; Hippel, F. von; Yeager, K.